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1.碳膜的多采用酚醛樹(shù)脂,其結(jié)構(gòu)上存在羥基與苯環(huán)直接相連,由于共軛效應(yīng),氧原子上未共享電子對(duì)移向苯環(huán)上而使氫原子易成H+,它在堿溶液中與OH-作用,引起水解致使整個(gè)分子受破壞,同時(shí)高溫加速水解。2.文字油墨的主體是不形成網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)或體型結(jié)構(gòu)的線型樹(shù)脂,此類(lèi)樹(shù)脂是碳原子以直鏈形式連接,穩(wěn)定性差。溶劑對(duì)表面分子鏈先溶劑化,然后樹(shù)脂內(nèi)部逐步溶劑化,使油墨溶脹引起鼓泡或脫落。3.采用中性水基清洗或常溫清洗可緩解碳膜和文字油墨等材料的破壞,在規(guī)定的清洗時(shí)限內(nèi)保持材料的完好性。2、原因分析闊智通測(cè)科技(廣州)有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技術(shù)以XX水基清洗劑為例,結(jié)合了溶劑和表面活性劑技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的水基清洗技術(shù),具有寬大的應(yīng)用窗口和從電子基材表面徹底去除所有污染物的能力。四線法(Four-Wire Method),也被稱(chēng)為Kelvin四線法或Kelvin連接法,是一種用于測(cè)量電阻的方法。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)
廣州維柯多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-(2000/5000),測(cè)試電壓高達(dá)2000V/5000V可選精度高:1x106-1x109Ω≤±2%;取值速度快:20ms/所有通道;限流電阻:每個(gè)通道設(shè)有1MΩ限流電阻,保護(hù)金屬絲晶體做失效分析;配置靈活:模塊化設(shè)計(jì),可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;測(cè)試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測(cè)試電壓,可同時(shí)完成多工況測(cè)試;授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作,查看樣品監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù);操作方便:充分考慮實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用場(chǎng)景,方便工程師實(shí)施工作;數(shù)據(jù)可曲線顯示;配不間斷電源UPS;接口友好:軟件可定制,或開(kāi)放數(shù)據(jù)接口,或接入實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng);浙江直銷(xiāo)電阻測(cè)試服務(wù)電話?授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作,查看樣品監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)。
SIR(表面絕緣電阻)測(cè)試在電子制造業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色,是確保產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的基石。它專(zhuān)注于評(píng)估印刷電路板(PCB)和其他電子組件表面的絕緣性能,防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導(dǎo)致的短路問(wèn)題。通過(guò)模擬長(zhǎng)期使用條件下的電氣性能變化,SIR測(cè)試幫助制造商識(shí)別并解決潛在的電氣故障,保障電子產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行,從而提高客戶(hù)滿(mǎn)意度和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。廣州維柯的SIR(表面絕緣電阻)測(cè)試測(cè)試電壓高達(dá) 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度,20ms/所有通道每秒的速度。
電阻測(cè)試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測(cè)試,提高工作效率。選擇電阻測(cè)試配件時(shí),首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要,因此需要選擇具有高精度的電阻測(cè)試配件。電阻測(cè)試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測(cè)試配件可以保證測(cè)試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對(duì)電阻測(cè)試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來(lái)說(shuō),具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。
J-STD-004B要求使用65°C,相對(duì)濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來(lái)制備測(cè)試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測(cè)試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測(cè)試。測(cè)試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測(cè)試表面絕緣電阻。除了滿(mǎn)足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長(zhǎng)和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測(cè)試結(jié)果可以定義助焊劑等級(jí)是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來(lái)評(píng)估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類(lèi)型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過(guò)測(cè)試,高活性的助焊劑在測(cè)試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長(zhǎng)。分別測(cè)試實(shí)驗(yàn)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測(cè)量值衰減低于10倍時(shí),測(cè)試結(jié)果視為通過(guò)。也就是說(shuō),通常測(cè)試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測(cè)試條件。在電子設(shè)備制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。廣西國(guó)內(nèi)電阻測(cè)試以客為尊
在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)
當(dāng)一個(gè)較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時(shí),更高的偏置電壓由于會(huì)線性地影響失效時(shí)間,應(yīng)該被避免采用。這是因?yàn)檫^(guò)高的偏置電壓會(huì)抵消掉相對(duì)濕度的影響,而相對(duì)濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機(jī)制部分。LK_ling:因?yàn)殛?yáng)極導(dǎo)電絲是很細(xì)的,很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了,測(cè)試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí),電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí),顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后(一共596個(gè)小時(shí)),像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測(cè)量。10、在500小時(shí)的偏壓加載后,可以進(jìn)行額外的T/H/B條件。然而,**少要進(jìn)行500小時(shí)加載偏置電壓的測(cè)試,來(lái)作為CAF測(cè)試的結(jié)果之一。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)