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湖南SIR和CAF電阻測試分析

來源: 發(fā)布時間:2024-07-08

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500,可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長時間的測試樣品,觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實時監(jiān)控,測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理,客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式,對測試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估,以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選),測試組數(shù)1-16組(組數(shù)可選)測試時間1-9999小時(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))測試電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)測試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。在電子設(shè)備領(lǐng)域,表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。湖南SIR和CAF電阻測試分析

電阻測試

CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問題1)樹脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實填飽造成氣泡殘存。CAF形成過程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動下逐漸向負(fù)極遷移。江西直銷電阻測試誠信合作通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。

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1.1機械開封機械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附,異物呈樹枝狀結(jié)晶,由一端電極往另一端電極方向生長,并連接了電阻兩端電極;一端電表表面發(fā)生溶解,且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。

電阻測試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測試,提高工作效率。選擇電阻測試配件時,首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測試結(jié)果對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要,因此需要選擇具有高精度的電阻測試配件。電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對電阻測試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實際需求選擇適用范圍的配件。一般來說,具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度(包括加工、制造過程的殘留)。

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在七天的測試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開始24小時的穩(wěn)定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是:持續(xù)時間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進(jìn)行。樣板的制備和ECM測試一樣,都是依據(jù)方法制備(如圖1)。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時可能存在一定的誤差。貴州CAF電阻測試服務(wù)

在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。湖南SIR和CAF電阻測試分析

電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測試儀器。它通常由多個電阻組成,通過選擇不同的電阻值來模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測試過程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問題。在電子產(chǎn)品的制造和維修過程中,電阻測試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測試配件通過測量電路中的電阻值來判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動,控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個電路的性能。因此,電阻測試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。湖南SIR和CAF電阻測試分析