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陜西供應(yīng)電阻測試訂做價(jià)格

來源: 發(fā)布時間:2024-08-31

廣州維柯多通道SIR-CAF實(shí)時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-(2000/5000),測試電壓高達(dá)2000V/5000V可選精度高:1x106-1x109Ω≤±2%;取值速度快:20ms/所有通道;限流電阻:每個通道設(shè)有1MΩ限流電阻,保護(hù)金屬絲晶體做失效分析;配置靈活:模塊化設(shè)計(jì),可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試;授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作,查看樣品監(jiān)測數(shù)據(jù);操作方便:充分考慮實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用場景,方便工程師實(shí)施工作;數(shù)據(jù)可曲線顯示;配不間斷電源UPS;接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng);隨技術(shù)的發(fā)展電子產(chǎn)品的集成度越來越高,電路板(PCB/PCBA)上的元件也越來越密集。陜西供應(yīng)電阻測試訂做價(jià)格

電阻測試

在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。貴州離子遷移絕緣電阻測試有哪些HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試,是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。

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CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。

線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素:無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度,還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物(包括助焊劑殘留物)。由于這種失效機(jī)制是動態(tài)變化的,理想狀況是對每種設(shè)計(jì)和裝配都進(jìn)行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題:如何比較好地描述一個組件的電化學(xué)遷移傾向。表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機(jī)理取決于四個因素:銅、電壓、濕度和離子種類。當(dāng)環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時,能夠與表面上的任何離子相互作用,使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應(yīng),它們在電壓的作用下,被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟:水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。防止發(fā)生離子遷移故障的一個重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥。

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在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察,精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。評估PCB制作的工藝能力,驗(yàn)證制作工藝是否對PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影響。廣西離子遷移電阻測試性價(jià)比

從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然,這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導(dǎo)體而造成短路故障。陜西供應(yīng)電阻測試訂做價(jià)格

無論使用何種助焊劑,總會在焊接后的PCB及焊點(diǎn)上留下或多或少的殘留物,這些殘留物不僅影響PCBA的外觀,更可怕的是構(gòu)成了對PCB可靠性的潛在威脅;特別是電子產(chǎn)品長時間在高溫潮濕條件下工作時,殘留物便可能導(dǎo)致線路絕緣老化以及腐蝕等問題,進(jìn)而出現(xiàn)絕緣電阻(SIR)下降及電化學(xué)遷移(ECM)的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實(shí)施,相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香(樹脂)助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程,然而其殘留物的影響始終是大家尤為關(guān)心的方面[1]-[4]。陜西供應(yīng)電阻測試訂做價(jià)格