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必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過(guò)分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測(cè)試(包括破壞性實(shí)驗(yàn))。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。絕緣體表面或內(nèi)部有形成電解質(zhì)物質(zhì)的潛在因素。包括絕緣體本身的種類(lèi),構(gòu)成,添加物,纖維性能,樹(shù)脂性能。海南供應(yīng)電阻測(cè)試供應(yīng)商
J-STD-004B要求使用65°C,相對(duì)濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來(lái)制備測(cè)試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測(cè)試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測(cè)試。測(cè)試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測(cè)試表面絕緣電阻。除了滿(mǎn)足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀(guān)察樣板是否有晶枝生長(zhǎng)和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測(cè)試結(jié)果可以定義助焊劑等級(jí)是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來(lái)評(píng)估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類(lèi)型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過(guò)測(cè)試,高活性的助焊劑在測(cè)試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線(xiàn)路之間枝晶的生長(zhǎng)。分別測(cè)試實(shí)驗(yàn)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線(xiàn)路的絕緣電阻值。第二次和***次測(cè)量值衰減低于10倍時(shí),測(cè)試結(jié)果視為通過(guò)。也就是說(shuō),通常測(cè)試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測(cè)試條件。廣東離子遷移絕緣電阻測(cè)試訂做價(jià)格系統(tǒng)標(biāo)配≥256通道,可分為16組測(cè)試單元,同時(shí)測(cè)試16種不同樣品。
CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問(wèn)題1)樹(shù)脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問(wèn)題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹(shù)脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。CAF形成過(guò)程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹(shù)脂半固化后制成;2、樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過(guò)程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹(shù)脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。
CAF測(cè)試方法案例:1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線(xiàn),連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移,終導(dǎo)致產(chǎn)品失效,常見(jiàn)的是PCB板的腐蝕、短路等。
選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持。電阻測(cè)試配件是電子行業(yè)中不可或缺的測(cè)試工具,它的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。在選擇電阻測(cè)試配件時(shí),需要考慮準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性、適用范圍和品牌信譽(yù)等因素。只有選擇合適的配件,才能保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。廣州維柯多通道SIR-CAF表面絕緣電阻電阻測(cè)試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測(cè)試配件可以保證測(cè)試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對(duì)電阻測(cè)試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來(lái)說(shuō),具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。CAF,即導(dǎo)電性Anode Filament,是PCB中電解液在高濕、高溫下導(dǎo)致的絕緣層導(dǎo)電現(xiàn)象,嚴(yán)重影響電路性能。海南供應(yīng)電阻測(cè)試供應(yīng)商
采用特殊材料和工藝,如低CAF風(fēng)險(xiǎn)的樹(shù)脂基板,結(jié)合SIR監(jiān)測(cè),提升PCB在惡劣環(huán)境下的可靠性和壽命。海南供應(yīng)電阻測(cè)試供應(yīng)商
電阻值的測(cè)定時(shí)間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測(cè)定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測(cè)定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測(cè)定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測(cè)試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測(cè)量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測(cè)樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測(cè)量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測(cè)樣品電阻時(shí)測(cè)量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測(cè)量電壓,因?yàn)閮x器恒壓工作測(cè)量漏電流,用歐姆定理計(jì)算電阻值。海南供應(yīng)電阻測(cè)試供應(yīng)商