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江西離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

來源: 發(fā)布時間:2024-09-01

一般而言,SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導(dǎo)致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時,選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。產(chǎn)生離子遷移的原因,是當絕緣體兩端的金屬之間有直流電場時,這兩邊的金屬就成為兩個電極。江西離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

電阻測試

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500,可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進行長時間的測試樣品,觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進行實時監(jiān)控,測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理,客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式,對測試樣品進行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估,以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選),測試組數(shù)1-16組(組數(shù)可選)測試時間1-9999小時(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC(0.1V步進)測試電壓1-500VDC(0.1V步進)偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)測試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。貴州pcb離子遷移絕緣電阻測試批量定制其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬(陰極)遷移。

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廣州維柯信息技術(shù)有限公司【SIR測試:確保汽車電子安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)】配置靈活:模塊化設(shè)計,可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;l測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試;在汽車電子領(lǐng)域,SIR測試尤為重要,直接關(guān)系到行車安全。汽車電子系統(tǒng)必須在高溫、潮濕、振動等惡劣環(huán)境下保持高度的電氣穩(wěn)定性。通過定期的SIR測試,工程師可以驗證電路板涂層和封裝材料的耐久性,預(yù)防電路間的漏電和短路,保障車輛電子系統(tǒng)的正常運行,減少因電氣故障引發(fā)的安全隱患,為駕乘者提供更加安心的出行體驗。

在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。

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電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測量電壓,因為儀器恒壓工作測量漏電流,用歐姆定理計算電阻值。HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試,是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。廣西供應(yīng)電阻測試批量定制

模塊化的集成設(shè)計,16通道組成一個測試模塊。江西離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察,精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標準,專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計,它能夠?qū)崟r監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。江西離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家