在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中，隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當金屬纖維絲在線路板表面以下生長時，稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF，本文中不會討論這種情況，但這也是一個熱門話題。當電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時，它會導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長，比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進行測試?？煽康碾娮咏M裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗，例如：熱、機械、化學(xué)、電等因素。測試每一種考驗因素對系統(tǒng)的影響，通常以加速老化的方式來測試。這也就是說，測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為：在直流偏壓的影響下，印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子，由電場運輸重新沉積在陰極上。其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。廣西制造電阻測試批量定制

01電化學(xué)遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細，電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外，還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力，可實現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類型全部需要通過電化學(xué)遷移測試才能獲得入門資格。湖南銷售電阻測試發(fā)展焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。

PCBA測試是PCBA制程中控制產(chǎn)品品質(zhì)的一個重要環(huán)節(jié)，是為了檢測PCBA板是否有足夠的可靠性來完成以后的工作，這會直接關(guān)系到以后的用戶體驗和返修率，所以PCBA可靠性測試顯得尤為重要。一般的PCBA可靠性測試分為ICT測試、FCT測試、疲勞測試、模擬環(huán)境測試、老化測試。1、ICT測試：ICT測試主要是元器件焊接情況、電路的通斷、電壓和電流數(shù)值及波動曲線、振幅、噪音的測試。2、FCT測試：FCT測試需要進行IC程序燒制，然后將PCBA板連接負載，模擬用戶輸入輸出，對PCBA板進行功能檢測，發(fā)現(xiàn)硬件和軟件中存在的問題,實現(xiàn)軟硬件聯(lián)調(diào)，確保前端制造和焊接正常。3、疲勞測試：老化測試主要是對PCBA板進行抽樣，模擬用戶使用進行功能的高頻、長時間操作，觀察是否出現(xiàn)失效，判斷測試出現(xiàn)故障的概率，以此反饋電子產(chǎn)品內(nèi)PCBA板的工作性能。4、模擬環(huán)境測試：模擬環(huán)境測試主要是將PCBA板暴露在極限值的溫度、濕度、跌落、濺水、振動下，獲得隨機樣本的測試結(jié)果，從而推斷整個PCBA板批次產(chǎn)品的可靠性。5、老化測試：老化測試是對PCBA板進行長時間的通電測試，模擬用戶使用，保持其工作并觀察是否出現(xiàn)任何失效故障，經(jīng)過老化測試后的電子產(chǎn)品才能批量出廠銷售。

離子遷移（ECM/SIR/CAF）是電子電路板（PCB）中常見的失效模式，尤其在高電壓、高溫和濕度條件下更為突出。這些現(xiàn)象與電子組件的可靠性和壽命緊密相關(guān)。電解質(zhì)介電擊穿（ECM - Electrochemical Migration）：要因分析：ECM 主要是由于電路板上的電解質(zhì)（如殘留水分、污染物質(zhì)或潮濕環(huán)境中的離子）在電場作用下引發(fā)金屬離子的氧化還原反應(yīng)和遷移，導(dǎo)致短路或漏電流增加。解決方案：設(shè)計階段：采用***材料，如具有低吸濕性及良好耐離子遷移性的阻焊劑和基材（如FR-4改良型或其他高級復(fù)合材料）；優(yōu)化布線設(shè)計，減少高電壓梯度區(qū)域。工藝控制：嚴格清潔流程以減少污染，采用合適的涂層保護措施，提高SMT貼片工藝水平以防止錫膏等殘留物成為離子源。環(huán)境條件：產(chǎn)品儲存、運輸和使用過程中需遵循防潮密封標準，確保封裝完整。測試控制軟件管理模塊：用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。

電子元器件篩選的目的：剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點：篩選試驗為非破壞性試驗。不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。對批次產(chǎn)品進行*篩選。篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測試項目：檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗、顆粒碰撞噪聲檢測。環(huán)境應(yīng)?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍：半導(dǎo)體集成電路：時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試，是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。浙江制造電阻測試供應(yīng)商

通過外觀、潤濕時間、潤濕力評定，可以數(shù)值具體化。廣西制造電阻測試批量定制

另一方面，工藝的優(yōu)化和控制可能會遺漏一些關(guān)鍵的失效來源。其次，由于組件處于生產(chǎn)過程中，無法實時收集結(jié)果。根據(jù)測試方法的不同，測試時間**少為72小時，**多為28天，這使得測試對于過程控制來說太長了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測試方法，以控制組裝工藝。幾十年來，行業(yè)標準一直認為SIR測試是比較好的方法。然而，在實踐中，這種方法有一些局限性。首先，它是在標準梳狀測試樣板上進行的，而不是實際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等，需要進行**的測試設(shè)置。而且測試方法的選擇，可能需要組裝元器件，也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān)，這些因素的標準化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。廣西制造電阻測試批量定制