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廣東銷(xiāo)售電阻測(cè)試有哪些

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-11-03

J-STD-004B要求使用65°C,相對(duì)濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來(lái)制備測(cè)試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測(cè)試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測(cè)試。測(cè)試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測(cè)試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長(zhǎng)和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測(cè)試結(jié)果可以定義助焊劑等級(jí)是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來(lái)評(píng)估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類(lèi)型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過(guò)測(cè)試,高活性的助焊劑在測(cè)試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長(zhǎng)。分別測(cè)試實(shí)驗(yàn)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測(cè)量值衰減低于10倍時(shí),測(cè)試結(jié)果視為通過(guò)。也就是說(shuō),通常測(cè)試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測(cè)試條件。根據(jù)阻值設(shè)定,能自動(dòng)判定失效,系統(tǒng)界面提示出現(xiàn)失效出現(xiàn)失效通道。廣東銷(xiāo)售電阻測(cè)試有哪些

電阻測(cè)試

01電化學(xué)遷移測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)1、專(zhuān)業(yè)的設(shè)備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進(jìn)口設(shè)備,采樣速度更快,漏電捕捉精細(xì),電阻測(cè)量精度高。2、專(zhuān)業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專(zhuān)業(yè)的試驗(yàn)評(píng)估外,還具備針對(duì)測(cè)試失效品的專(zhuān)業(yè)級(jí)失效分析能力,可實(shí)現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測(cè)試。某些國(guó)際**汽車(chē)電子大廠要求其不同供應(yīng)商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類(lèi)型全部需要通過(guò)電化學(xué)遷移測(cè)試才能獲得入門(mén)資格。廣東pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試訂做價(jià)格自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)能大幅提高電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。

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在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長(zhǎng)期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?!旧疃榷床欤_監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專(zhuān)為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽(yáng)極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。

CAF測(cè)試方法案例:1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。如果 SIR 值較低,表示材料的表面絕緣性能較差,可能導(dǎo)致電路短路等故障,從而降低 MTTF。

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電橋測(cè)量法則是利用電橋平衡原理,通過(guò)調(diào)整電橋中的電阻值,使電橋達(dá)到平衡狀態(tài),從而讀取被測(cè)電阻的阻值。電橋測(cè)量法具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍廣、測(cè)量速度快等優(yōu)點(diǎn),是電阻測(cè)試中常用的方法之一。常見(jiàn)的電橋測(cè)量?jī)x器包括惠斯通電橋、開(kāi)爾文電橋等。除了上述方法外,隨著科技的發(fā)展,還出現(xiàn)了基于微處理器技術(shù)的智能電阻測(cè)試儀,這些儀器集成了多種測(cè)試方法,具有測(cè)量精度高、自動(dòng)化程度高、數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于科研、生產(chǎn)和檢測(cè)等領(lǐng)域。在生產(chǎn)線上,準(zhǔn)確的電阻測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。廣西離子遷移電阻測(cè)試服務(wù)

在電路板上進(jìn)行電阻測(cè)試時(shí),需小心操作,避免短路相鄰元件。廣東銷(xiāo)售電阻測(cè)試有哪些

離子遷移(ECM/SIR/CAF)是電子電路板(PCB)中常見(jiàn)的失效模式,尤其在高電壓、高溫和濕度條件下更為突出。這些現(xiàn)象與電子組件的可靠性和壽命緊密相關(guān)。電解質(zhì)介電擊穿(ECM - Electrochemical Migration):要因分析:ECM 主要是由于電路板上的電解質(zhì)(如殘留水分、污染物質(zhì)或潮濕環(huán)境中的離子)在電場(chǎng)作用下引發(fā)金屬離子的氧化還原反應(yīng)和遷移,導(dǎo)致短路或漏電流增加。解決方案:設(shè)計(jì)階段:采用***材料,如具有低吸濕性及良好耐離子遷移性的阻焊劑和基材(如FR-4改良型或其他高級(jí)復(fù)合材料);優(yōu)化布線設(shè)計(jì),減少高電壓梯度區(qū)域。工藝控制:嚴(yán)格清潔流程以減少污染,采用合適的涂層保護(hù)措施,提高SMT貼片工藝水平以防止錫膏等殘留物成為離子源。環(huán)境條件:產(chǎn)品儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中需遵循防潮密封標(biāo)準(zhǔn),確保封裝完整。廣東銷(xiāo)售電阻測(cè)試有哪些