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海南離子遷移電阻測試設(shè)備

來源: 發(fā)布時間:2024-12-04

在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?!旧疃榷床欤_監(jiān)測】GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標準,專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計,它能夠?qū)崟r監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。這意味著在焊劑殘留、有機酸鹽類、松香等污染物可能導(dǎo)致的電性能退化之前,該系統(tǒng)就能預(yù)警,為制造商提供寶貴的數(shù)據(jù)支持,及時調(diào)整清洗工藝,避免潛在的失效風險?!径嗤ǖ纼?yōu)勢,***提升效率】區(qū)別于傳統(tǒng)單一通道的監(jiān)測設(shè)備,GWHR256系統(tǒng)具備16-256個通道的高靈活性,能夠同時監(jiān)測多組樣品,極大提高了測試效率。無論是大規(guī)模生產(chǎn)還是研發(fā)階段的小批量驗證,都能靈活應(yīng)對,滿足不同規(guī)模企業(yè)的多樣化需求。其強大的數(shù)據(jù)處理能力,支持測試時間長達9999小時,覆蓋了從短期到長期的***可靠性測試周期,為PCBA的長期性能保駕護航。.評估PCB存儲后的可焊性性能,驗證存儲是否對PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影響。海南離子遷移電阻測試設(shè)備

電阻測試

電阻測試過程中的自動化和智能化水平仍有待提高。目前,許多電阻測試仍然依賴于人工操作,不僅效率低下,而且容易引入人為誤差。為了解決這個問題,科研人員正在開發(fā)智能電阻測試系統(tǒng),通過引入人工智能和大數(shù)據(jù)技術(shù),實現(xiàn)測試過程的自動化和智能化。這些系統(tǒng)能夠自動識別和分類測試數(shù)據(jù),提高測試效率和準確性,同時降低人為誤差的風險。在電阻測試數(shù)據(jù)的處理和分析方面,也面臨著一些挑戰(zhàn)。由于測試數(shù)據(jù)的海量性和復(fù)雜性,傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理方法已經(jīng)難以滿足需求。為了解決這個問題,研究人員正在探索新的數(shù)據(jù)處理和分析技術(shù),如機器學(xué)習和深度學(xué)習等。這些技術(shù)能夠從大量數(shù)據(jù)中提取有用的信息,提高數(shù)據(jù)分析的準確性和效率,為電阻測試的決策提供有力支持。湖北表面絕緣電阻測試價格半導(dǎo)體元器件隨著技術(shù)和生產(chǎn)工藝的進步,其可靠性得到了長足的發(fā)展。

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維柯的SIR/CAF檢測系統(tǒng)不僅具備高精度電流測量能力,還擁有大范圍的電阻測量范圍,從1x1014Ω,覆蓋了從微小電阻到高阻值的全部范圍。這一大范圍的測量范圍使得維柯的設(shè)備能夠應(yīng)用于多種不同的測試場景,滿足客戶的多樣化需求。在電子產(chǎn)品制造過程中,不同的材料和部件具有不同的電阻特性。例如,印制電路板上的銅導(dǎo)線、阻焊油墨層以及絕緣漆等材料,其電阻值可能相差幾個數(shù)量級。維柯的設(shè)備能夠準確測量這些不同材料的電阻值,為制造商提供多方面的數(shù)據(jù)支持。此外,在科研領(lǐng)域,隨著新材料、新技術(shù)的不斷涌現(xiàn),對電阻測量的要求也越來越高。維柯的設(shè)備憑借其大范圍的測量范圍,能夠應(yīng)對這些新的挑戰(zhàn),為科研人員提供更加準確的測試數(shù)據(jù)。

當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。維柯CAF.TCT產(chǎn)品系列具有好的適用性和高精度的測試能力。

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電化學(xué)遷移被認為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機械開封機械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附,異物呈樹枝狀結(jié)晶,由一端電極往另一端電極方向生長,并連接了電阻兩端電極;一端電表表面發(fā)生溶解,且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。在電路板上進行電阻測試時,需小心操作,避免短路相鄰元件。湖南制造電阻測試操作

在進行電阻測試時,應(yīng)使用低阻抗測試線,減少線路損耗。海南離子遷移電阻測試設(shè)備

一般而言,SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導(dǎo)致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時,選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。海南離子遷移電阻測試設(shè)備