液晶顯示裝置通常包括液晶顯示面板與背光模塊,由于液晶顯示面板本身并不具備自發(fā)光的特性,所以必須利用背光模塊提供液晶顯示面板所需的面光源,以使液晶顯示面板可借由背光模塊提供的面光源而顯示影像,背光模塊按照光源位置的不同分為側(cè)入式背光模塊和直下式背光模塊兩種。直下式背光模塊是將發(fā)光光源或發(fā)光二極管設(shè)置在液晶顯示面板后方,直接形成面光源提供給液晶顯示面板。而側(cè)入式背光模塊通常是將發(fā)光光源設(shè)置于液晶顯示面板側(cè)后方的背板邊緣處,LED燈條發(fā)出的光線從導(dǎo)光板一側(cè)的入光面進入導(dǎo)光板,經(jīng)發(fā)射和擴散后從導(dǎo)光板出光面射出,再經(jīng)由光學(xué)膜片組而形成面光源,以提供給液晶顯示面板,但是現(xiàn)有技術(shù)中通過膠框束縛光學(xué)組件,其束縛區(qū)域有限,沒有全范圍涵蓋光學(xué)組件,外層的膜片可能出現(xiàn)膜片褶皺、波浪等現(xiàn)象;膜片直接裸露,實際作業(yè)過程中直接與產(chǎn)品接觸,會產(chǎn)生劃傷等不良現(xiàn)象,影響檢驗效果及良率,所以急需一種便捷耐用的側(cè)入式LED檢測燈箱來解決上述存在的問題。蘇州嘯百光電提供一種便捷耐用的側(cè)入式LED檢測燈箱,可以解決上述存在的問題。公司的檢測燈箱產(chǎn)品,根據(jù)客戶需求可以實現(xiàn)10000nit~100000nit的亮度,均勻性可以做到97%,厚度可以做到10mm。
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照度又稱投射光,是描述被攝體受照表面被照明的程度。照度定義為單位面積上所接受的光通量。LX是一個英文縮寫,1流明的光通量均勻分布在1平方米面積上的照度,就是一勒克斯??梢詷俗骼湛怂?,英為lux,簡作lx。照度的大小與光源的發(fā)光強度有關(guān)。光源的發(fā)光強度越大,則照度越高。如果光源的發(fā)光強度不變,則光源距離被攝體越近,被攝體的照度越高。照度與距離平方成反比關(guān)系。這一規(guī)律適用于發(fā)光均勻的點光源。對于太陽來說,因為它與地球的距離可以看做無限遠,而拍攝距離的變化可以忽略。因此太陽被當成平行光源而不是點光源。因此我們說太陽照射到地球上的照度是均勻的。照度與被攝景物表面的反光特性無關(guān)。一旦光源的強度與位置確定了,被攝體的照度就確定了。不論被照物是什么物體,例如我們在某一光源同一距離處放一個白色石膏與一個黑色木雕,分別測量二者的照度,發(fā)現(xiàn)二者的照度是一樣的。被檢測產(chǎn)品距離檢測光源或燈箱有一定距離(D)時,我們一般定義距離檢測光源或檢測燈箱表面D時的照度作為判斷是否滿足規(guī)格的標準。蘇州嘯百光電技術(shù)有限公司,可以提供各種形態(tài)檢測燈箱,色度和照度均可以定制,目前可以實現(xiàn)20萬lx的照度。江西玻璃外觀高亮背光模組批發(fā)重慶實驗用高亮背光模組。
液晶顯示模塊(LiquidCrystalModule,LCM)的生產(chǎn)過程中,從印刷電路板整合進液晶顯示面板(PCBI)的制程到各個模塊的組裝(Assembly),在待組裝物、設(shè)備或是人員之間,不可避免都會有移動及接觸與再分離的行為出現(xiàn),因此在待組裝物上必然會發(fā)生靜電放電(ElectrostaticsDischarge,ESD)的現(xiàn)象。雖然在環(huán)境溫度及相對濕度與接地都會做有效的管控,但對一些已知會產(chǎn)生ESD的工作點還是需要加以注意。特別是在LCM的玻璃偏光板(Polarizer)表面,都會有貼附一層防止刮傷的保護膜,在生產(chǎn)過程中必須移除這層保護膜,往往造成許多的靜電電荷(ElectrostaticCharge)大量殘存在液晶玻璃面板內(nèi)的顯示組件與集成電路中,繼而在后續(xù)的組裝程序上,出現(xiàn)危險的組件儲存電荷模式(ChargedDeviceModel,CDM)之ESD或電性過壓(ElectricalOverstress,EOS)現(xiàn)象,進而造成半導(dǎo)體組件內(nèi)部電路的破壞。部分已受ESD內(nèi)傷的產(chǎn)品,有時還會到客戶端才又被檢測出來,后續(xù)嚴重的客退問題又造成產(chǎn)品成本的一大負擔(dān)。
AOI檢測設(shè)備原理:當自動檢測時,AOI檢測設(shè)備機器通過高清CCD攝像頭自動掃描被檢測產(chǎn)品,采集圖像,測試的檢測點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出目標產(chǎn)品上的缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整和工程人員改善工藝。AOI檢測設(shè)備的大致流程是相同的,多是通過圖形識別法。即將AOI系統(tǒng)中存儲的標準數(shù)字化圖像與實際檢測到的圖像進行比較,從而獲得檢測結(jié)果。例如,檢測某個焊點時,按照一個完好的焊點建立起標準數(shù)字化圖像,與實測圖像進行比較,檢測結(jié)果是通過還是不通過,取決于標準圖像、分辨力和所用檢測程序。圖形識別中會用到各種算法,如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求邊角等。AOI的光線照射有白光和彩色光兩類設(shè)備,白光是用256層次的灰度,彩色是用紅光,綠光,藍光,光線照射至焊錫/元器件的表面,之后光線反射到鏡頭中,產(chǎn)生二維圖像的三維顯示,來反映焊點/元器件的高度和色差。AOI從鏡頭數(shù)量來說有單鏡頭和多鏡頭,這只是技術(shù)方案實現(xiàn)的一種選擇,很難說那種方式就一定好,因為單鏡頭通過多個光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。廣西玻璃外觀高亮背光模組。
針對高溫高濕環(huán)境下檢測燈箱容易出現(xiàn)的部件翹曲變形、亮度衰減快的問題,公司開發(fā)了老化爐檢測燈箱,防水、防刮、耐溫,成本低,目前已經(jīng)在各家陸續(xù)導(dǎo)入。公司還提供各種膜材類的檢測燈箱,檢測燈架,檢測臺。目前已經(jīng)在膜材類涂布線、成型線為客戶定制量產(chǎn)了各種高度可調(diào),角度可調(diào),發(fā)光面積可調(diào),照度可調(diào)的燈箱或燈架,壽命長,成本低,防藍光,提升了客戶的檢驗效率和體驗。公司還開發(fā)了玻璃蓋板用高均勻度、高穩(wěn)定度的檢測燈箱,均勻性可以做到97%~99%,亮度穩(wěn)定性低于1%。針對印刷油墨產(chǎn)品中人眼不易檢出的淺印、偏色、露白等不良有很好的檢出效果。吉林老化爐用高亮背光模組。外觀高亮背光模組聯(lián)系方式
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簡單來說mura是指液晶屏幕亮度和色度不均勻,造成各種痕跡的現(xiàn)象。為什么會有Mura產(chǎn)生?主要有以下因素:CF制程因為膜厚的Coating不均,會導(dǎo)致產(chǎn)生色不均之現(xiàn)象。Coating在涂布時如果噴嘴有阻塞的情況,即會造成VerticalMura。TFT制程OverLapTFT的主要構(gòu)成為層與層之間的相互交疊,若某一層在制作過程中發(fā)生偏移就會產(chǎn)生異常,可能影響TFT的特性而造成Mura。LCD制程CellGapCellGap不均,會造成偏高或偏低階的Mura現(xiàn)象。Spacer散布的均勻性及spacer本身原材料的均勻性都有可能影響Mura的產(chǎn)生。Roller因機臺Roller的壓力過大或是輪子上沾附異物,造成面板經(jīng)過滾輪后而產(chǎn)生丸狀或條狀Mura。Stage因機臺Stage吸力過大而造成吸附后形成StageMura,或Stage的平整度不佳當經(jīng)過制程機臺后,亦有可能產(chǎn)生相關(guān)性的Mura。LCM制程Roller因機臺Roller的壓力過大或是滾輪上沾附異物,造成面板經(jīng)過滾輪后而產(chǎn)生丸狀或條狀Mura。Vacuum因Stage吸力過大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light:B/L本身膜材不良或其他來料造成異常亦會形成Mura現(xiàn)象。偏光片偏光片本身來料不良,造成偏貼后形成Mura。人為因素因拿取Panel方式不當,手指按壓到面板的力量過大,易造成丸狀Mura。廣西專業(yè)背光源臺