鎢探針：我們生產(chǎn)的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針，主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測(cè)以及晶圓檢測(cè)等行業(yè)。適用于各類(lèi)Pad表面。采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料，可按照不同客戶(hù)的多樣要求，提供國(guó)產(chǎn)或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。通常情況下，測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會(huì)受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測(cè)試電流可達(dá)39amps。鹽城好的探針?shù)N售公司

在電子測(cè)試中對(duì)探針的選擇有著較高的要求，重點(diǎn)會(huì)考慮到探針能承載多大的電流、可適應(yīng)的間距值、頭型與待測(cè)對(duì)象的適配度等等。在電子測(cè)試過(guò)程中若是探針使用不恰當(dāng)或者性能達(dá)不到測(cè)試的需求，就比較容易造成損壞，影響測(cè)試的穩(wěn)定性，因此探針的性能比較重要。在電子測(cè)試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類(lèi)型。這兩種探針都是用于手機(jī)電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測(cè)試的。彈片微針模組是一體成型式的彈片結(jié)構(gòu)，體型輕薄，鍍金后經(jīng)過(guò)加硬處理，可承載的電流高能達(dá)到50A，電流傳輸時(shí)流通于同一材料體內(nèi)，具有更好地連接功能；在小pitch領(lǐng)域，彈片微針模組的適應(yīng)性高，可取值范圍小可達(dá)到0.15mm，性能比較穩(wěn)定。半導(dǎo)體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。蘇州專(zhuān)業(yè)探針生產(chǎn)廠(chǎng)家我們的探針在導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿(mǎn)足客戶(hù)定制要求。

探針臺(tái)是由針頭、內(nèi)管和彈簧三部分組成的。因?yàn)樘结樤趹?yīng)用中十分注重它的導(dǎo)電性、持久性和硬度等特性的強(qiáng)弱，所以在安裝時(shí)也是有一定的講究的。在安裝前，要對(duì)這些部分做特殊的電鍍處理，這樣的探針才可以說(shuō)是合乎規(guī)范可以應(yīng)用的探針。一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)。汽車(chē)線(xiàn)束測(cè)試測(cè)試探針專(zhuān)業(yè)用于汽車(chē)線(xiàn)束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等。電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析?？梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線(xiàn)掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量（預(yù)置9999測(cè)試點(diǎn)）定量分析。比較少用。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測(cè)試電流可達(dá)39amps。

鎢探針是一種結(jié)構(gòu)細(xì)長(zhǎng)由純鎢或者鎢合金制的得的鎢制品?？梢杂糜跉寤『讣夹g(shù)中的電極材料，也可用以?xún)x器探針的使用。它具有耐高溫，導(dǎo)電性好等優(yōu)點(diǎn)。鎢針主要用于雕刻金屬表面，膠棉中顆粒的切割和單一顆粒的操作。由于這些針?lè)浅Ｒ状啵时容^經(jīng)常彎曲或折斷。在完成粒子切割時(shí)需要用手操作。這些鎢針不僅用于粒子的切割，也用于晶胚和玻璃的吹制。鎢資源的主要應(yīng)用也是硬質(zhì)合金，也就是鎢鋼。硬質(zhì)合金，被稱(chēng)為現(xiàn)代工業(yè)的牙齒，鎢鋼制品的使用程度非常。探針具有的功能：用于測(cè)量半導(dǎo)體材料、功能材料。

接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。通常不能給出具體的指標(biāo)，因?yàn)閷?shí)際的接觸電阻比較難測(cè)量。一般，信號(hào)路徑電阻被用來(lái)替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關(guān)。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候，探針卡用戶(hù)經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱(chēng)值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分。在實(shí)際使用中，探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點(diǎn)的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況，而且它同標(biāo)稱(chēng)值相差較多。探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。泰州好的探針

隨著探針開(kāi)始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開(kāi)始。鹽城好的探針?shù)N售公司

探針對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響：通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭，再通過(guò)測(cè)試頭至探針卡，然后通過(guò)探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測(cè)器件，并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問(wèn)題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致，也可能是其它原因造成。通常情況下，測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會(huì)受探針參數(shù)的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。鹽城好的探針?shù)N售公司

江蘇秉聚金屬制品有限公司致力于電子元器件，是一家貿(mào)易型的公司。公司自成立以來(lái)，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下放電鎢針，微創(chuàng)鎢針，探針深受客戶(hù)的喜愛(ài)。公司從事電子元器件多年，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù)，還有一批**的專(zhuān)業(yè)化的隊(duì)伍，確保為客戶(hù)提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶(hù)成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。