基本的AOI技術(shù)包含下列子系統(tǒng)：高速高精度XY方向的運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng);機(jī)械光學(xué)系統(tǒng);高精度高可靠性圖像采集系統(tǒng);智能圖像識(shí)別與錯(cuò)誤檢測(cè)系統(tǒng)。這些子系統(tǒng)構(gòu)成了一個(gè)與多維測(cè)量和錯(cuò)誤檢測(cè)密切相關(guān)的設(shè)備。注意到AOI識(shí)別是機(jī)器視覺(jué)在印刷電路板領(lǐng)域的具體應(yīng)用，換言之，印刷電路板的缺陷檢測(cè)實(shí)質(zhì)上是屬于模式識(shí)別的范疇。它將PCB上的不同缺陷視為不同的模式類，從采集到的圖像信號(hào)中提取和選擇特征，根據(jù)特征向量構(gòu)造判別函數(shù)，進(jìn)行缺陷分類，即模式識(shí)別。識(shí)別算法的好壞直接影響到智能圖像識(shí)別系統(tǒng)的性能，進(jìn)而影響整個(gè)AOI系統(tǒng)的性能。從機(jī)器視覺(jué)的發(fā)展來(lái)看，目前在AOI上面至少可以完整地應(yīng)用以下的視覺(jué)識(shí)別算法。AOI檢測(cè)不僅是一部檢測(cè)設(shè)備，對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì)，可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因。浙江3dAOI光源

用AOI軟件核實(shí)真正的缺陷AOI軟件中有一個(gè)綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報(bào)，保證檢測(cè)程序無(wú)缺陷。它可以檢查儲(chǔ)存起來(lái)的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。在優(yōu)化階段，在這方面花時(shí)間的原因是為了不讓任何缺陷溜過(guò)去。所有已知的缺陷都必須檢查，同時(shí)要把允許出現(xiàn)的誤報(bào)數(shù)量做到較小。在針對(duì)減少誤報(bào)而對(duì)任何程序進(jìn)行調(diào)整時(shí)，要檢查一下，看看以前檢查出來(lái)的直正缺陷，是否得到維修站的證實(shí)。通過(guò)綜合的核實(shí)，保證檢查程序的質(zhì)量，用于專門的制造和核查，同時(shí)對(duì)誤報(bào)進(jìn)行追蹤。深圳新一代AOI品牌一般都將離線AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)置在生產(chǎn)線的中段，在這個(gè)位置，設(shè)備可以產(chǎn)生的過(guò)程控制信息。

    AOI是SMT加工當(dāng)中一種檢測(cè)設(shè)備，又稱AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，已成為電子制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過(guò)程質(zhì)量控制工具。AOI檢測(cè)設(shè)備工作原理是在自動(dòng)檢測(cè)過(guò)程中，AOI檢測(cè)設(shè)備機(jī)器通過(guò)高清CCD攝像頭自動(dòng)掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，將測(cè)試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格參數(shù)進(jìn)行對(duì)比，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷，并通過(guò)顯示或自動(dòng)標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線電機(jī)、精密機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測(cè)試時(shí)，AOI設(shè)備通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來(lái)捕捉圖像，通過(guò)處理和數(shù)據(jù)庫(kù)軟件對(duì)合格參數(shù)進(jìn)行比較，并綜合判斷元件及特性是否合格，然后測(cè)試結(jié)論，如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問(wèn)題。

光源:八側(cè)面多角度高亮條形光源相機(jī)：標(biāo)配2000萬(wàn)CCD全彩工業(yè)面陣相機(jī)（可選配1200萬(wàn)/2500萬(wàn)/2900萬(wàn)）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長(zhǎng)度不限；可選配寬度750mm，長(zhǎng)度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨(dú)立顯卡顯存：8G/6G內(nèi)存/硬盤存儲(chǔ)：16GDDR4/2T操作系統(tǒng)：：22寸/，率先對(duì)AOI進(jìn)行變革。采用深度學(xué)習(xí)算法，解決AOI編程復(fù)雜、誤報(bào)多的行業(yè)痛點(diǎn)，為客戶提供智能的插件檢測(cè)方案。公司團(tuán)隊(duì)深耕計(jì)算機(jī)視覺(jué)領(lǐng)域、圖形、圖像領(lǐng)域16余年，擁有20年行業(yè)背景。合作客戶覆蓋工控、電源、電力、家電、汽車電子、醫(yī)療電子、消費(fèi)電子等多個(gè)行業(yè)。在長(zhǎng)期的經(jīng)營(yíng)活動(dòng)中以高效的服務(wù)贏得廣大客戶的信賴及推介。生產(chǎn)廠家只需要提調(diào)試好供的攝像設(shè)備通過(guò)網(wǎng)絡(luò)端對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，通常檢測(cè)效果能夠代替實(shí)地檢測(cè)的效果。

光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，而無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過(guò)度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低，但其缺點(diǎn)是半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有一些問(wèn)題，同時(shí)，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)域。芯片表面上的光敏區(qū)域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個(gè)原因?qū)е驴梢允占膱D像信息光子數(shù)會(huì)有所減少，所以，CMOS光電轉(zhuǎn)化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。 以目前AOI（自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)）技術(shù)在PCB行業(yè)滲透率較高，復(fù)雜化趨勢(shì)以及制造行業(yè)整體對(duì)智能化變革的需求。江蘇插件AOI光源

AOI檢測(cè)的工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為圖像采集階段，數(shù)據(jù)處理階段，圖像分析段和缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段。浙江3dAOI光源

AOI檢測(cè)原理:通過(guò)攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)，以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較，分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過(guò)程。AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼，AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦，即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)，在整個(gè)AOI檢測(cè)中，其工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為：Step1：圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集）；Step2：數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換）；Step3：圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）；Step4：缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段（缺陷大小類型分類等）。在整個(gè)AOI系統(tǒng)運(yùn)作中，所有的判定基礎(chǔ)都是基于攝影得到的圖像，因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與系統(tǒng)中的模板做對(duì)比，所以獲取圖像信息的精確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要！若圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn)，那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。 浙江3dAOI光源

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