AOI是SMT加工當(dāng)中一種檢測(cè)設(shè)備，又稱(chēng)AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備，已成為電子制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過(guò)程質(zhì)量控制工具。AOI檢測(cè)設(shè)備工作原理是在自動(dòng)檢測(cè)過(guò)程中，AOI檢測(cè)設(shè)備機(jī)器通過(guò)高清CCD攝像頭自動(dòng)掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，將測(cè)試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格參數(shù)進(jìn)行對(duì)比，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷，并通過(guò)顯示或自動(dòng)標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線(xiàn)電機(jī)、精密機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測(cè)試時(shí)，AOI設(shè)備通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來(lái)捕捉圖像，通過(guò)處理和數(shù)據(jù)庫(kù)軟件對(duì)合格參數(shù)進(jìn)行比較，并綜合判斷元件及特性是否合格，然后測(cè)試結(jié)論，如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問(wèn)題。 現(xiàn)流行的AOI一般光源分為普通熒光燈和同軸光源兩種。浙江在線(xiàn)AOI檢測(cè)儀

易用性：1、無(wú)需設(shè)置參數(shù)；上手快；2、在線(xiàn)抓拍首件板系統(tǒng)輔助做程序，自動(dòng)框圖比例高，支持持續(xù)補(bǔ)充學(xué)習(xí)，學(xué)習(xí)后自動(dòng)建模比例更高(80%+）；3、根據(jù)客戶(hù)需要，支持自定義器件名稱(chēng)；4、支持快速更改工單號(hào)；5、支持批量復(fù)制、粘貼、剪切、刪除等快捷鍵操作多重智能算法檢測(cè)：1、智能識(shí)別鋁電容頂部字符；2、智能識(shí)別黑灰電容字符；3、智能識(shí)別黑電感字符或方向；4、智能識(shí)別電池座方向；5、小鐵片檢測(cè)；6、智能識(shí)別聚丙烯電容字符；7、電線(xiàn)檢測(cè)；8、金屬高頻頭螺紋/光頭檢測(cè)；9、智能識(shí)別變壓器字符；10、智能識(shí)別蜂鳴器方向；11、智能識(shí)別晶振字符；12、智能識(shí)別東倒西歪的電容極性。13、三極管方向檢測(cè)；14、橋堆方向檢測(cè)支持客戶(hù)離線(xiàn)編程、客戶(hù)遠(yuǎn)程調(diào)控、遠(yuǎn)程調(diào)試1、支持系統(tǒng)學(xué)習(xí)訓(xùn)練，學(xué)習(xí)越多效果越好；2、支持本地學(xué)習(xí)。 上海3dAOI檢測(cè)可重復(fù)性是判斷AOI軟件優(yōu)劣的重要指標(biāo)。

光源:八側(cè)面多角度高亮條形光源相機(jī)：標(biāo)配2000萬(wàn)CCD全彩工業(yè)面陣相機(jī)（可選配1200萬(wàn)/2500萬(wàn)/2900萬(wàn)）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長(zhǎng)度不限；可選配寬度750mm，長(zhǎng)度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨(dú)立顯卡顯存：8G/6G內(nèi)存/硬盤(pán)存儲(chǔ)：16GDDR4/2T操作系統(tǒng)：：22寸/，率先對(duì)AOI進(jìn)行變革。采用深度學(xué)習(xí)算法，解決AOI編程復(fù)雜、誤報(bào)多的行業(yè)痛點(diǎn)，為客戶(hù)提供智能的插件檢測(cè)方案。公司團(tuán)隊(duì)深耕計(jì)算機(jī)視覺(jué)領(lǐng)域、圖形、圖像領(lǐng)域16余年，擁有20年行業(yè)背景。合作客戶(hù)覆蓋工控、電源、電力、家電、汽車(chē)電子、醫(yī)療電子、消費(fèi)電子等多個(gè)行業(yè)。在長(zhǎng)期的經(jīng)營(yíng)活動(dòng)中以高效的服務(wù)贏得廣大客戶(hù)的信賴(lài)及推介。

隨著計(jì)算機(jī)的快速發(fā)展，AOI也采用了目前許多成熟的圖像分析技術(shù)，包括模板匹配法(或自動(dòng)對(duì)比)、邊緣檢測(cè)法、特征提取法(二值圖)、灰度直方圖法、傅里葉分析法、光學(xué)特征識(shí)別法等，每個(gè)技術(shù)都有優(yōu)勢(shì)和局限。模板比較法通過(guò)獲得物體圖像，如片狀電容或QFP，并用該信息產(chǎn)生一個(gè)剛性的基于像素的模板。在檢測(cè)位置的附近，傳感器找出相同的物體。當(dāng)相關(guān)區(qū)域中所有點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估之后，找出模板與圖像之間有Z小差別的位置停止搜尋。AOI系統(tǒng)為每個(gè)要檢查的物體產(chǎn)生這種模板，通過(guò)在不同位置使用相應(yīng)模板，建立對(duì)整個(gè)板的檢查程序，來(lái)查找所有要求的元件。但是由于元件檢測(cè)圖像很少完全匹配模板，所以用兩種方法來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題：可以用一定數(shù)量的容許誤差來(lái)確認(rèn)匹配的，如果模板太僵硬，可能產(chǎn)生對(duì)元件的“誤報(bào)”;如果模板松散到接受大范圍的可能變量，也會(huì)導(dǎo)致“漏報(bào)”;可以根據(jù)同類(lèi)的眾多良品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)模板的計(jì)算，或者叫“特征元件”，這樣可以Zda限度提取該類(lèi)元件的共性特征，從而降低誤報(bào)率。AOI檢測(cè)儀有很高的自潔能力，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染，這會(huì)影響系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型。

當(dāng)前電子產(chǎn)品日漸向著小型化趨勢(shì)發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品元器件的微型化要求也越來(lái)越高，微型器件的組裝和檢測(cè)難以只通過(guò)人工完成，由此產(chǎn)生越來(lái)越多的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備需求。與此同時(shí)，自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備還能夠健身制造成本、提升產(chǎn)品質(zhì)量，AOI檢測(cè)設(shè)備代替人工的進(jìn)程發(fā)展較快。在此背景下，中國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)逐步發(fā)展起來(lái)。從AOI檢測(cè)設(shè)備來(lái)看，目前AOI檢測(cè)設(shè)備是SMT加工廠必備的設(shè)備，平均一條SMT生產(chǎn)線(xiàn)至少需要2-3臺(tái)AOI檢測(cè)設(shè)備，但我國(guó)AOI檢測(cè)設(shè)備的滲透率較低，只為50%左右。 AOI的光學(xué)圖像系通常CCD線(xiàn)陣相機(jī)、聚集鏡頭、鹵素或LED燈光源及圖像采集卡等組成。江蘇3dAOI光學(xué)檢測(cè)儀

若干個(gè)光電轉(zhuǎn)化器以行列的方式進(jìn)行排列形成矩陣就構(gòu)成了圖像傳感器。浙江在線(xiàn)AOI檢測(cè)儀

對(duì)于運(yùn)動(dòng)物體的檢測(cè)，要考慮圖像運(yùn)動(dòng)模糊帶來(lái)的不利影響，準(zhǔn)確計(jì)算導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間，確定圖像傳感器的型號(hào)。圖像傳感器的曝光時(shí)間應(yīng)小于導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間，快速曝光選擇全局快門(mén)模式為宜，高速情況下不易采用卷簾式曝光模式；為了獲得比較好的信噪比，圖像傳感器的增益盡可能為1，圖像亮度的提升盡可能用光源的能量（功率）來(lái)彌補(bǔ)，或者在不影響可用的成像景深情況下，增大鏡頭的孔徑光闌。在系統(tǒng)集成中，被測(cè)件的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì)，這牽涉到精密機(jī)械設(shè)計(jì)技術(shù)，這對(duì)平板顯示、硅片、半導(dǎo)體和MEMS等精密制造與組裝產(chǎn)業(yè)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)非常重要。在這些領(lǐng)域，制造過(guò)程通常在超凈間進(jìn)行，要求自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)具有很高的自潔能力，對(duì)系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型都有嚴(yán)格要求，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染。尤其是用于表面缺陷檢測(cè)的AOI系統(tǒng)不能在檢測(cè)過(guò)程中，給被測(cè)件表面帶來(lái)缺陷（如粉塵、劃傷、靜電等）。 浙江在線(xiàn)AOI檢測(cè)儀

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