關(guān)于元件長(zhǎng)度公差，不同的組件供應(yīng)商、電路板和無(wú)鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒(méi)有任何直接的影響。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變，那么就能夠相當(dāng)大地簡(jiǎn)化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是，由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響，圖形對(duì)照系統(tǒng)無(wú)法得到適合的檢查結(jié)果，這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓?。更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級(jí)。如果在現(xiàn)在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個(gè)新的變化，就要增加一個(gè)級(jí)別，來(lái)保證檢查的精確性。所有認(rèn)識(shí)到的和已知的缺陷都儲(chǔ)存起來(lái)，他們的類(lèi)型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫(kù)里的檢查程序。我們沒(méi)有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來(lái)用于詳細(xì)的檢查。AOI是全自動(dòng)化，可以持續(xù)不斷地對(duì)同一件事物進(jìn)行觀察而不會(huì)感到疲勞，這對(duì)于效率的提升而言是十分重要的。福建自動(dòng)AOI編程

對(duì)于運(yùn)動(dòng)物體的檢測(cè)，要考慮圖像運(yùn)動(dòng)模糊帶來(lái)的不利影響，準(zhǔn)確計(jì)算導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間，確定圖像傳感器的型號(hào)。圖像傳感器的曝光時(shí)間應(yīng)小于導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間，快速曝光選擇全局快門(mén)模式為宜，高速情況下不易采用卷簾式曝光模式；為了獲得比較好的信噪比，圖像傳感器的增益盡可能為1，圖像亮度的提升盡可能用光源的能量（功率）來(lái)彌補(bǔ)，或者在不影響可用的成像景深情況下，增大鏡頭的孔徑光闌。在系統(tǒng)集成中，被測(cè)件的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì)，這牽涉到精密機(jī)械設(shè)計(jì)技術(shù)，這對(duì)平板顯示、硅片、半導(dǎo)體和MEMS等精密制造與組裝產(chǎn)業(yè)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)非常重要。在這些領(lǐng)域，制造過(guò)程通常在超凈間進(jìn)行，要求自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)具有很高的自潔能力，對(duì)系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型都有嚴(yán)格要求，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染。尤其是用于表面缺陷檢測(cè)的AOI系統(tǒng)不能在檢測(cè)過(guò)程中，給被測(cè)件表面帶來(lái)缺陷（如粉塵、劃傷、靜電等）。 廣州爐前AOI檢測(cè)設(shè)備質(zhì)量可靠的AOI檢測(cè)儀專(zhuān)業(yè)的光源及合理打光方案是機(jī)器視覺(jué)的技術(shù)，判斷檢測(cè)系統(tǒng)是否穩(wěn)定可靠。

AOI又叫自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，是應(yīng)用于表面貼裝生產(chǎn)流水線上的一種自動(dòng)光學(xué)檢查裝置，可有效的檢測(cè)印刷質(zhì)量、貼裝質(zhì)量以及焊點(diǎn)質(zhì)量。AOI的中心是CCD攝像系統(tǒng)抓取圖片，然而通過(guò)圖像處理卡與計(jì)算機(jī)處理軟件系統(tǒng)等系列的算法處理后，與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行對(duì)比，發(fā)現(xiàn)缺陷，并生產(chǎn)文件。使用AOI可以在裝配工藝過(guò)程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過(guò)程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段，AOI將減少修理成本避免報(bào)廢不可修理的電路板。

愛(ài)為視新一代智能插件AOI，采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、先進(jìn)深度學(xué)習(xí)模型，計(jì)算機(jī)視覺(jué)、圖形圖像處理等技術(shù)，解決AOI編程復(fù)雜、誤報(bào)多的行業(yè)痛點(diǎn)，提供插件爐前錯(cuò)、漏、反、多、歪斜等缺陷檢測(cè)方案。其具有無(wú)需設(shè)置參數(shù)、軟件輔助極速建模、無(wú)需專(zhuān)業(yè)操作人員，支持器件局部檢測(cè)等中心優(yōu)勢(shì)；中心優(yōu)勢(shì)：一、軟件輔助建模：極速建模，一鍵智能搜索80多種器件；二、無(wú)需設(shè)置參數(shù)：1.采用智能算法、自動(dòng)框圖比例高；2.無(wú)需抽色、無(wú)需調(diào)飽和度、色相、無(wú)需調(diào)容忍度、閾值；三、無(wú)需專(zhuān)業(yè)操作人員：1.傻瓜式操作，2.會(huì)操作電腦的產(chǎn)線員工即可使用；四、支持局部檢測(cè)：支持器件本體大部分特征相同局部有差異的器件檢測(cè) AOI基于機(jī)器學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)與分類(lèi)。

光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，而無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過(guò)度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低，但其缺點(diǎn)是半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有一些問(wèn)題，同時(shí)，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)域。芯片表面上的光敏區(qū)域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個(gè)原因?qū)е驴梢允占膱D像信息光子數(shù)會(huì)有所減少，所以，CMOS光電轉(zhuǎn)化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。 AOI檢測(cè)行業(yè)應(yīng)用需求結(jié)構(gòu)主要通過(guò)PCB、半導(dǎo)體和FPD的產(chǎn)量比例來(lái)進(jìn)行測(cè)算得到。深圳智能AOI原理

目前常用的圖像識(shí)別算法為灰度相關(guān)算法，通過(guò)計(jì)算歸一化的相關(guān)來(lái)量化檢測(cè)圖像和標(biāo)準(zhǔn)圖像之間的相似程度。福建自動(dòng)AOI編程

AOI就是自動(dòng)光學(xué)辨識(shí)系統(tǒng),是英文(AutoOpticalInspection)的縮寫(xiě)，國(guó)內(nèi)叫做自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，現(xiàn)在已經(jīng)普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的電路板組裝生產(chǎn)線的外觀檢查并取代以往的人工目檢。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的基本原理是利用影像技術(shù)來(lái)比對(duì)待測(cè)物與標(biāo)準(zhǔn)影像是否有過(guò)大的差異來(lái)判斷待測(cè)物有否符合標(biāo)準(zhǔn)，所以AOI的好壞基本上也取決于其對(duì)影像的解析度、成像能力與影像辨析技術(shù)。早期時(shí)候AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備大多被拿來(lái)檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，隨著技術(shù)的演進(jìn)，現(xiàn)在則被拿來(lái)用在SMT組裝線上檢測(cè)電路板上的零件焊錫組裝后的品質(zhì)狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn)。福建自動(dòng)AOI編程

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