深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-03-22

在微波雷達(dá)寬頻測(cè)試中，欣同達(dá)測(cè)試座對(duì)信號(hào)損耗進(jìn)行了有效控制。微波雷達(dá)系統(tǒng)的工作頻段較寬，不同頻段的信號(hào)特性存在差異，對(duì)測(cè)試座的信號(hào)損耗控制提出了挑戰(zhàn)。欣同達(dá)測(cè)試座采用了寬帶匹配技術(shù)，優(yōu)化了測(cè)試座的阻抗匹配，減少了信號(hào)在傳輸過(guò)程中的反射和損耗。同時(shí)，通過(guò)采用低損耗的射頻材料和優(yōu)化的電路布局，進(jìn)一步降低了信號(hào)損耗。在實(shí)際測(cè)試中，欣同達(dá)測(cè)試座在微波雷達(dá)常用的寬頻范圍內(nèi)，信號(hào)損耗可控制在極小范圍內(nèi)，確保了測(cè)試信號(hào)的完整性和準(zhǔn)確性，為微波雷達(dá)芯片的寬頻性能測(cè)試提供了可靠的保障。?

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