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北京萊寶光學(xué)鍍膜設(shè)備

來源: 發(fā)布時(shí)間:2021-02-25

【光譜特性不良產(chǎn)生的原因】膜系設(shè)計(jì)時(shí)的膜厚、折射率允差太小,試制時(shí)的分光曲線在技術(shù)要求的邊緣,制造中稍有偏差就導(dǎo)致分光不良。設(shè)計(jì)的膜料折射率與實(shí)際的折射率有差異,或發(fā)生了變異。實(shí)被的中心波長(膜厚)與希望達(dá)到的中心波長(膜厚)有差異,或發(fā)生了変異。( tooling值(也有F值)有偏差)。制造中出了差錯(cuò);如膜料用錯(cuò)、程序用錯(cuò)、預(yù)熔時(shí)沒關(guān)擋板等。工藝條件改變:真空度、充氧星、加熱溫度、蒸發(fā)速率、基片旋轉(zhuǎn)速度、離子輔助條件等。材料變更,如不同廠家生產(chǎn)的同種光學(xué)材料(基片材料和膜料)在光學(xué)性能化學(xué)性能有所不同(有時(shí)同廠家不同生產(chǎn)批次也有不同),生產(chǎn)過程中(特別是大批量生產(chǎn))材料突然變更(末作論證),就可能造成分光不良。 用于測試分光的比較片表面特性變異,造成分光測試不良(也許鏡片的分光是OK的,可以比較二者的反射膜se)。這也許是容易忽視的一個(gè)問題,又是一個(gè)常見的可題,特別是高折射率的測試比較片表面形成一層腐蝕層,相當(dāng)于有了一層減反膜(很薄),膜層不是堆積在基片上,而是堆積在蝕層上,于是比較片上的分光就會不準(zhǔn)確、不穩(wěn)定。 光學(xué)鍍膜設(shè)備產(chǎn)業(yè)集群。北京萊寶光學(xué)鍍膜設(shè)備

【霍爾離子源的工作原理】工作氣體或反應(yīng)氣體由陽極底部進(jìn)入放電區(qū)內(nèi)參與放電,放電區(qū)內(nèi)由磁鐵產(chǎn)生如圖所示的錐形磁場,在放電區(qū)的上部安裝有補(bǔ)償或中和陰極。根據(jù)工作要求該型號離子源的工作氣體為氬氣,反應(yīng)氣體可以使用氮?dú)?、氧氣或碳?xì)涞榷喾N氣體。放電區(qū)上部陰極燈絲加熱后產(chǎn)生熱電子,當(dāng)離子源的陽極施以正電位+U時(shí),電子在電場作用下向陽極運(yùn)動,由于磁場的存在,電子繞磁力線以螺旋軟道前進(jìn),與工作氣體或反應(yīng)氣體的原子發(fā)生碰撞使其離化。離子在霍爾電場的作用下被加速獲得相應(yīng)的能量,與燈絲熱陰極發(fā)射的部分熱電子形成近等離子體,由等離子體源發(fā)射出來與基片發(fā)生作用達(dá)到清洗和輔助鍍膜的目的。河北uv光學(xué)鍍膜設(shè)備磁控濺射光學(xué)鍍膜設(shè)備是什么?

【光學(xué)鏡片鍍膜的膜形核過程之三維核生長模式(島狀生長)】三維形核生長模式(島狀生長),三維形核生長模式(Volmec-Weber型),又稱之為沃爾默一韋伯型,是島狀生長模式。光學(xué)鏡片鍍膜按這樣方式形成時(shí),首先是吸附于基片表面的一些原子發(fā)生遷徙的情況而形成原子團(tuán),也就是膜的形核,待至核的尺寸達(dá)到某一臨界值,也就是一個(gè)穩(wěn)定的核,而自蒸發(fā)源飛向基片的原子就在核上直接凝聚成島狀結(jié)構(gòu),再將這些小島連接起來而形成連續(xù)的一層鍍膜,所以才叫島狀的生長模式。這種膜生長一般是在真空鍍膜的原子間有很大的相互作用力的情況,加上鍍膜原子和基片的原子之間的相互作用力略小時(shí),便會出現(xiàn)這種島狀生長方式而形成鍍膜層。

【如何改善由于設(shè)計(jì)膜系導(dǎo)致的光譜特性不良】膜系設(shè)計(jì)時(shí)的膜厚、折射率允差太小,試制時(shí)的分光曲線在技術(shù)要求的邊緣,制造中稍有偏差就導(dǎo)致分光不良。膜系設(shè)計(jì)中選用膜料的折射率應(yīng)與使用膜料使用機(jī)臺吻合。膜系設(shè)計(jì)盡量考慮厚度與折射率允差(各層的厚度及折射率允許偏差1%-2%),特別是敏感層,要有一定的允差(1%)。控制厚度與實(shí)際測試厚度的" tooling"值,要準(zhǔn)確,并經(jīng)常確認(rèn)調(diào)整。設(shè)計(jì)的技術(shù)要求必須高于圖紙?zhí)岢龅募夹g(shù)要求,設(shè)計(jì)時(shí)考慮基片變異層折射率變化帶來的影響,設(shè)計(jì)時(shí)考慮膜料的折射率変化及膜料之間、膜料與基片之間的匹配。光學(xué)鍍膜設(shè)備升級改造。

【常見的柵網(wǎng)材質(zhì)】常見的柵網(wǎng)材質(zhì)包括鉬柵網(wǎng)和石墨柵網(wǎng):石墨柵網(wǎng)的腐蝕速度比鉬柵網(wǎng)慢,壽命更長。但某些工藝涂層材料可能會降低石墨柵網(wǎng)的使用壽命,并且石墨難清洗易碎,而鉬柵網(wǎng)易于重復(fù)清洗使用少數(shù)工藝特殊要求可選擇鈦、鋼鐵、合金等。柵網(wǎng)束型根據(jù)具體工藝進(jìn)行選擇,由于鉬柵網(wǎng)熱膨脹系數(shù)高,通常采用蝶形及花瓣?duì)顖A盤石墨網(wǎng)由于整體易碎特點(diǎn)通常為規(guī)則矩形或圓形,采用微開孔型,故發(fā)散角相對鉬網(wǎng)小。柵網(wǎng)間距一般幾毫米,考慮到電壓差,距離過近易被擊穿,距離過遠(yuǎn)則難以控制離子束。光學(xué)鍍膜設(shè)備該如何維修。天津光學(xué)鍍膜設(shè)備平臺

光學(xué)鍍膜設(shè)備使用時(shí),需要注意哪些問題?北京萊寶光學(xué)鍍膜設(shè)備

【檢測光學(xué)鍍膜機(jī)鍍膜膜厚均勻性的方法】一種檢測光學(xué)鍍膜機(jī)鍍膜膜厚均勻性的方法,包括下列步驟:第一步:設(shè)計(jì)本發(fā)明雙腔濾光片膜系;第二步:模擬計(jì)算膜層厚度變化對所訴雙腔濾光片峰值透過率及中心波長的影響;第三步:計(jì)算尖峰極值點(diǎn)透過率比值與膜層光學(xué)厚度比值,中心波長與總光學(xué)厚度,兩組數(shù)學(xué)關(guān)系.第四步:根據(jù)第三步的數(shù)學(xué)關(guān)系,求解計(jì)算膜厚的公式;第五步:從工件盤中心到邊緣擺放數(shù)量大于2的基片,沉積本發(fā)明所述雙腔濾光片,測量出每一片的中心波長和尖峰極值透過率,用第四步的公式計(jì)算出每一片兩種膜層厚度,得到鍍膜機(jī)鍍膜膜厚度分布即膜厚均勻性.實(shí)驗(yàn)表明:本發(fā)明可以快速準(zhǔn)確獲得光學(xué)鍍膜機(jī)鍍膜膜厚均勻性數(shù)據(jù),為鍍膜機(jī)鍍膜膜厚均勻性修正提供依據(jù)。北京萊寶光學(xué)鍍膜設(shè)備

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